GB11158- 2008高溫試驗箱技術(shù)條件

GB11158- 2008低溫試驗箱技術(shù)條件

GB10592- 2008高低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度交變)

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗A:低溫(IEC60068-2- 1:2007)

GB/T2423.2- 2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.22-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度無變化(IEC60068-2-1:2007)

GJB 150.3A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗

GJB 150.4A-2009裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗

本產(chǎn)品是根據(jù)用戶要求，參照GB2423[1].02高溫試驗方法、GB2423[1].01低溫試驗方法相應技術(shù)條件制造。主要為航天、航空、石油、化工、汽車（摩托車）、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫度變化環(huán)境，